盛景微取得一种雷管芯片测试系统和方法专利，可针对不同型号芯片满足不同测试需求，通用性好

经验 2024年08月26日 07:02 252 子罡

金融界2024年8月24日消息，天眼查知识产权信息显示，无锡盛景微电子股份有限公司取得一项名为“一种雷管芯片测试系统和方法“，授权公告号CN117031186B，申请日期为2023年8月。

专利摘要显示，本发明提供了一种雷管芯片测试系统和方法，其可针对不同型号芯片满足不同测试需求，盛景微取得一种雷管芯片测试系统和方法专利，可针对不同型号芯片满足不同测试需求，通用性好通用性好；所述上位机，与被配置有待测芯片代号的数据服务平台连接，用于向所述下位机发送操作指令，并根据所述下位机返回的信息和调用的所述待测芯片代号获得测试结果，以及根据测试结果下发分管信号；所述下位机包括：测试设备，与所述上位机连接，用于根据操作指令向至少一个待测芯片发送测试指令，并根据所述待测芯片的回应信息确定测试参数，并将测试参数发送至所述上位机；其中，测试参数包括通讯检测参数、电流检测参数和频率检测参数；分选机，与所述上位机连接，用于根据所述分管信号对所述待测芯片进行良率分选。

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