金融界2024年8月29日消息，天眼查知识产权信息显示，上海泽丰半导体科技有限公司取得一项名为“一种半导体晶圆老化测试系统及探针卡“，授权公告号CN118376822B，申请日期为2024年6月。专利...

2024-08-29 710 上海泽丰半导体取得一种半导体晶圆老化测试系统及探针卡专利有利于探针卡各项性能在老化测试中保持一致